本论文采用Y型反射式光纤探头构建了微位移及表面粗糙度检测装置，主要由发光二极管、锁相放大器、光纤探头、光电池及相关电路组成。根据课题要求，文中对Y型反射式光纤探头的位移测试原理进行了初步探讨和数学分析，给出了基本计算公式，给出了位移与响应灵敏度的关系曲线。指出Y型反射式光纤探头进行微小位移、较大位移、表面粗糙度测试时的特征曲线段，这一点在实用中很有价值。同时对微弱光电信号处理技术也作了较全面深入的研究。本论文是应用锁相放大的方法进行微弱信号处理的，放大倍数为10~6，信噪比改善可达1000倍。本文最后部分对多种标准片、铝片、玻璃片的表面粗糙度进行了测试，与轮廓仪测试结果相比较，得到较为一致的结果。通过实验和分析，指出了提高测试精度的方法，对今后的研究和开发具有指导意义。