近年来随着电子科技的高速发展和不断的推陈出新,集成电路的规模也随之水涨船高,超大规模集成电路也应运而生。但与此同时,伴随着集成电路规模越来越大,其复杂度、集成度也日益提高,难免会在设计和生产的环节中出现各种各样的缺陷,而这些缺陷最终都会导致集成电路出现故障和问题,因此对集成电路的测试是至关重要的。目前我国的集成电路测试技术发展迅猛,但仍存在着测试数据量过大、测试时间过长、测试的技术要求高等现实问题,所以开发一种高效的测试技术一直是国内学者的追求目标。集成电路的测试技术主要有三个方面:测试集紧缩技术,内建自测试技术（Built-in Self-Test,BIST）和外建自测试技术（Built-off-Self-Test,BOST）。现阶段国内外比较常见的是外建自测试技术中的编码压缩技术,编码压缩技术是一种无损压缩技术,不会影响电路的故障率,可以及时的发现电路存在的问题。基于编码的压缩方法主要有四种:变长-定长编码、定长-定长编码、定长-变长编码、变长-变长编码。比较常见的有:游程编码、字典编码、统计编码、间接编码。本文围绕编码的压缩技术展开研究,将游程编码和字典编码相结合,不仅保留了字典编码中无需存储器来存储,不需要硬件解压器的优势;也保留了游程编码的优点,实现的方法较简单,压缩的效果更好。同时本文还将二分算法应用在建立字典中,最后提出了基于二分字典编码的测试数据压缩方法。该方法突破了往常字典编码在测试数据基础上建立字典的限制,提出用N位进制来控制字典编码的长度,将（0,1）区间N等分的小数Y作为中间参数,用0游程的形式表达为一个有规律的数据集,再利用二分查找法编制好字典。这种方法不仅达到减少测试时间和成本的要求,同时在解压时通过简单的计算即可以将测试数据还原,及时发现集成电路中存在的故障。本文考虑到字典的长度是否会对压缩效果产生影响,于是建立了部分2的幂次方位和非2的幂次方位二分字典,并对ISCAS89标准电路Mintest集中的7个测试电路逐个进行压缩实验。实验结果表明,8位进制的二分字典压缩方法平均有63.06%的压缩率,同时与FDR码、Golomb码的压缩率进行比较后发现,本文压缩方法的效果更好,这也进一步证实了本方案的可行性和有效性。