随着电气与电子技术的飞跃发展,电子设备中的电磁兼容(EMC)问题不断涌现且尚未得到很好的解决,产品电磁兼容性能的提高及其测试方法研究正受到越来越多的关注和重视。电磁兼容的关键技术包括电磁干扰(EMI)和电磁抗干扰(EMS)两个方面。在电磁干扰测试方面,目前电磁兼容标准中所规定的辐射发射和测量装置主要为开阔场(OATS)和电波暗室,其造价昂贵,一般企业和实验室难以实现；且成本较低的GTEM小室在用于电磁干扰测量方面尚不成熟,还存在精度不高、实现复杂等问题。在电磁抗干扰方面,静电放电(ESD)问题最为频发,危害巨大,且存在放电过程复杂、防护方法繁杂等问题,加上我国对于静电放电问题的研究比较滞后,因此对静电放电问题进行系统全面的研究十分必要。针对上述问题,本文开展了“电磁兼容中的测试与处理的若干关键技术研究”主要包括两个部分内容：第一部分为电磁兼容中辐射EMI测量问题的研究,主要内容有：(1)用于辐射电磁干扰测试的GTEM小室硬件结构设计、与开阔场的关联算法及辐射EMI诊断机理介绍。(2)提出了基于不同EMI噪声模型的GTEM小室测量方法,采用方差和多项式模型对GTEM小室测试结果进行补偿与校准,与3m电波暗室的标准测试结果对比,通过计算误差和精度以及高阶矩分析,判断各算法对不同EMI噪声模型的适用性。(3)分别采用汽车电子车载导航仪以及医疗器械高清助视器的辐射EMI噪声实验对上述理论分析加以验证。第二部分为电磁抗干扰(EMS)中静电放电(ESD)问题的研究,主要内容有：(1)阐述了静电放电的形成机理、放电特点、放电模型以及静电放电的耦合方法等,创新的从传导性ESD和辐射性ESD两个方面对ESD的干扰机理和抑制策略进行研究,提高了ESD问题的整改效率。(2)分别采用具有传导性ESD问题的某皮带秤和具有辐射性ESD问题的某型电力集中器进行实验,验证了上述理论的有效性。理论分析与实验结果表明,本文对GTEM小室的研究能够使其用于共模和差模辐射电磁干扰的测量和诊断,判断各算法的适用性,提高GTEM小室的测量精度,为GTEM小室用于辐射EMI噪声测量提供了理论基础；另一方面,本文根据电磁抗干扰中静电放电的理论研究和具体实验,验证了分别针对传导性ESD和辐射性ESD的抑制策略的有效性和实用性,提高了产品ESD问题的整改效率。