振子强度是描写能级之间跃迁概率的物理量,属于物质在原子分子层面上的基本参数,在理论和实验上都极其重要。目前国际上对此物理量的测量准确度大约为10%。本实验室长期致力于研究提高振子强度测量的准确度。为了实现这一目的,实验室在完全自主搭建起高分辨快电子能量损失谱仪后,又增加了相对流量技术,建立了统一的数据绝对化标准。最近我们又基于X-ray散射技术首次提出了测量原子分子光学振子强度的diPole(γ,γ)方法。此外,我们还对测量光学振子强度的光吸收方法进行了探索和改进。本论文基于电子碰撞方法和光吸收方法,测量了原子分子的振子强度,取得了一些成果。本论文分为两大部分,第一部分是基于电子碰撞方法展开的研究,主要包括:利用电子能量损失谱仪在入射电子能量1500eV、能量分辨70meV的条件下,基于相对流量技术测量了 N2分子a"∑g+(v’=0)和a"1∑g+(v’=1)+b1Πu(v’=0)的广义振子强度。通过对比电子碰撞的实验结果和最近的X射线散射实验结果,发现对于a"1∑g+(v’=0)和a"1∑g+(v’=1)+b1Πu(v’=0),我们的结果与X射线散射结果在大动量转移出现差异,这表明对a"1∑g+(v’=0)和a"1∑g+(v’=1),即使入射电子能量1500 eV也没有达到一阶玻恩近似条件。在动量转移平方小于2 a.u.时,a"1∑g+(v’=1)+b1Πu(v’=0)与X射线散射结果的符合表明,对b1Πu(v’=0),1500eV入射电子能量已经达到一阶玻恩近似条件;第二部分是基于光吸收方法展开的探索性研究,本论文深入探索了基于Beer-Lambert定则的光吸收实验方法,并详细分析了此实验方法所存在的线饱和效应。随后,为了克服光吸收方法中严重的线饱和效应,我们提出了双荧光法,经过详细的推导表明,原则上这种新的实验方法不受线饱和效应的影响。