近年来, 由于具有成为激光材料的潜在应用价值, 掺杂在Y₂SiO₅ 晶体中Pr³⁺ 的光谱引起了人们的兴趣。本论文研究了掺有三个不同浓度（1%、0.5%、0.02%）Pr³⁺离子的Y₂SiO₅晶体的吸收光谱,并且应用时间分辨激光光谱技术,利用可调谐纳秒激光器,研究了Pr³⁺: Y₂SiO₅晶体中下列能级4f5d、³P₂、¹I₆、³P₀、¹D₂、¹G₄、³F_4,3,2、³H₆、³H₅和³H₄组成的能级结构。测量了4f5d、³P₀、¹D₂的荧光谱,研究了光谱中峰值对应的跃迁并根据荧光谱测量了相应的荧光寿命,初步分析了掺杂浓度与荧光寿命之间的关系。本文重点研究了紫外上转换荧光特性,发现了在460nm激发下产生280nm～350nm的紫外荧光带,测量了上转换荧光强度随激发功率的变化曲线,上转换发光的斜率近似为2,由此我们可知样品中的上转换发光属于双光子过程,并研究了上转换发光机制。本论文为研究和应用Pr³⁺:Y₂SiO₅晶体的能级结构及可见-紫外上转换荧光奠定了光谱学基础。