近些年来,随着半导体产业的高速发展,芯片的出货量迅速增长。我国已把集成电路技术列为国家优先发展的行业,芯片测试技术作为集成电路产业链的关键技术之一,其重要性也越来越高。如何高效、准确地完成芯片性能测试,是众多芯片厂商在芯片量产测试中要面临的难题。同时,由于芯片受制造工艺、版本批次等影响,其内部模块会出现一定程度的偏差,影响芯片性能,因此需要对内部模块进行trim修调,提升芯片量产测试的良率。本篇论文来自实习公司的商业项目,基于自动化测试机台V93000为一款电源管理芯片设计了测试系统,首先介绍了集成电路测试的基础理论,分析了DC-DC转换器的工作机制与控制原理,研究了电源管理芯片的整体性能,其次,对V93000测试系统的基本结构、硬件资源和测试操作平台进行了介绍,配置了电平、时序等测试基础文件,并针对待测芯片的基本性能完成了测试电路板的设计。对待测芯片内部带隙电压模块的trim修调测试方法进行了研究,传统的全搜索修调方法即测试每个修调码值,选取结果最接近理想值的修调码值烧写进芯片中,这一方法比较耗费测试时间。针对这一问题,根据修调网络阻值互不影响的特点,提出权重搜索方法,在满足测试精度的情况下,相比全搜索方法缩短了52.8%的测试时间;在芯片量产测试的环境下,对待测芯片进行预修调,得出各个trim code下的分布曲线,采用曲线拟合法和自动修调法,得到不同条件下的最佳修调码值,该两种方法相较于权重法,进一步减少了寄存器写入的动作,相比全搜索方法缩短了71.7%和79.6%的测试时间。最后,针对待测芯片每个测试项编写了测试用例,测试用例包括效率测试、负载调整率测试、开关频率测试和I2C测试等凸显芯片性能的测试项,并对测试算法进行了优化,在开关频率测试部分,对传统频率测试方法进行改进,从时域处理转变为频域处理,使用插值算法对其结果进行优化,测试结果更加精确,并且开发了I2C适配器驱动,增强了代码的复用性。最终给出了各个测试项的实际测试结果,并对测试结果进行分析,验证测试方案的可靠性。