探测器是辐射成像系统中的关键器件之一,探测器性能的优劣和成像系统的最终指标关系密切,因此在进行成像系统设计时关于探测器的设计是非常关键的内容。探测器的种类繁多,本文针对目前工业CT所使用的线阵列探测器,对探测器所使用的材料(主要是闪烁晶体材料)进行了调研与分析,对探测器的物理机制进行了理论分析,为接下来的模拟计算提供了理论上的依据。利用蒙特卡罗模拟程序MCNP对探测器材料的几个性能,主要包括：晶体材料的粒子探测效率、能量沉积率、有效沉积因子等,进行了模拟,然后从理论上对这些模拟结果做出了合理的解释。最后模拟的结果表明：1.闪烁晶体材料的有效原子序数越高,其性能越好。2.对于一定能量的X射线,探测器的粒子探测效率和能量沉积率随晶体长度的增加而增加。当长度增加到一定的值以后,粒子探测效率和能量沉积率将达到最大值。有效沉积因子随长度的增加变化不大。3.对于一定长度的闪烁晶体,其粒子探测效率随入射X射线的能量的增加而减少。有效沉积因子随X射线能量的增加而增加。能量沉积率随X射线能量的增加先增加,然后减少。利用脚本软件对MCNP的输入、输出文件进行优化,提高了模拟计算的效率。利用电子设计自动化技术(Electronic Design Automation, EDA),引入光电二极管、AD转换芯片等电子元件,实现探测器模块的功能化。在探测器模块内部用硬件编程的方法设计其时序,使得模块能够正常地工作。并设计了一个校正模块,用于探测器响应校正。最后通过示波器验证了各个时序的正确性,利用实验的方法验证了校正算法的正确性。