【摘 要】
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基于IP(Intellectrual Property)核复用的系统芯片(SoC)使得测试问题变得更加突出。针对该问题本文简要概述了SoC中常用的可测性设计技术,然后分析了可测性设计面临的挑战及
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基于IP(Intellectrual Property)核复用的系统芯片(SoC)使得测试问题变得更加突出。针对该问题本文简要概述了SoC中常用的可测性设计技术,然后分析了可测性设计面临的挑战及发展前景。在此基础之上,本文讨论了SAA7750芯片上SRAM和ARM7TDMI处理器的可测性设计,对各种可能的方案进行了比较。根据本设计内嵌SRAM的读写特点,选取经过改造的March-LR测试算法,在存储器内建自测试(MBIST)结构上采取并行测试方式,有效地节约了MBIST给芯片带来的硬件开销。此外,本文采用了自主设计扫描单元和手动插入扫描链的方法,实现了微处理器ARM7TDMI的边界扫描测试。该方法在一定程度上提高了设计的灵活性;为调试与测试的接口整合提供了支持;较好地改善了因测试带来的芯片引脚增加的问题;有效地减小了芯片封装后的面积。
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