【摘 要】
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该文对几种非线性光学晶体(LAP、RCOB系列和KTP)中的缺陷用同步辐射白光貌相术进行了研究.人们得到LAP晶体的微生物包裹体、生长区界面、籽晶位错的同步辐射白光形貌照片,并
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该文对几种非线性光学晶体(LAP、RCOB系列和KTP)中的缺陷用同步辐射白光貌相术进行了研究.人们得到LAP晶体的微生物包裹体、生长区界面、籽晶位错的同步辐射白光形貌照片,并进行了分析.人们还对由提拉法生长的RCOB系列晶体中的生长缺陷进行了同步辐射白光貌相术的观察.利用同步辐射白光形貌的优良特性,人们还研究了KTP晶体在外电场下的变化特征,发现与准一维导电性相关的线型缺陷衬度,并得到高分辨衍射Rocking Curve曲线测量证实.通过以上研究人们提出改进晶体生长质量的几点措施,包括隔离LAP晶体生长溶液及在RCOB系列晶体的提拉法生长过程中尽量保持生长条件的相对稳定,避免大的温场波动等.
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