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磁流变阻尼器作为一种可控阻尼器件具有结构简单、响应迅速、能耗低、控制相对简单等优点。利用磁流变阻尼器进行半主动控制时,饱满圆润的示功特性是获得良好控制效果的前提,然而在大激励电流、高激振频率条件下,磁流变阻尼器示功特性易出现畸变,严重影响了阻尼器的使用性能。因此开展磁流变阻尼器示功特性畸变原因研究就显得十分重要。目前对磁流变阻尼器示功特性畸变原因的研究,主要是通过分析示功特性的畸变形状来推测导致示功特性畸变的原因,缺乏理论分析和对畸变条件下磁流变阻尼器运行状态的分析,使得研究结果可信度不高。基于此,