荧光偏振分子印迹检测技术包括荧光偏振分子印迹技术和荧光偏振检测技术，本研究主要针对荧光探针光学测量部分的嵌入式控制系统和上位机软件部分展开。　　论文首先介绍了荧光偏振检测系统的总体设计，阐述了光学测量部分的嵌入式控制系统，嵌入式控制系统采用基于ARM Cortex-M3内核的微控制器LPC1768作为处理器完成控制操作。并且详细阐述了下位机的整体框架和设计特点。　　其次，对荧光探针即荧光分子印迹聚合物的制备原理和制备工艺进行了说明，利用分子印迹聚合物的特异识别功能，可以进行一系列生物大分子的检测。详细介绍了荧光分子印迹聚合物的制备过程，以及通过粒径测试，红外光谱分析等方式对制备产物的特性与分子构成进行表征。随后，介绍在Visual Basic6.0环境下对上位机软件进行设计，利用VB强大的面向对象特点，简化软件设计的复杂程度。并且模块化的编程，也使得开发界面更加人性化。通过对上位机总体功能的分析，将上位机软件设计分为:登录门限、主界面、串口通信模块、检测操作模块、仪器参数设置模块和系统测试模块的设计和调试。　　最后，对荧光偏振检测系统的数据处理算法进行了设计，采用基于BP神经网络的样本集分割集成算法，可以对检测数据进行智能的数据分析和仿真运算，以此来对系统进行优化。　　本课题通过系统实验调试，验证了荧光偏振检测系统能够完成检测任务。系统采用基于样本集分割的集成算法对检测结果进行了分析处理，根据数据分析结果可以看出:仪器重复性误差CV≤3％，孔位测试的不均匀性≤2％，这些误差都属于可接受误差，说明该荧光偏振检测仪重复性好，孔位不均匀性影响误差小，而且有较高的灵敏度。从而实现了课题设计要求。