Weyl半金属作为一种新兴的自旋电子学材料,导电性与绝缘性并存,因此具有广泛的应用前景,研究进展迅速。REAlGe作为一类新型的Weyl半金属,同时具有Ⅰ型和Ⅱ型Weyl半金属的特征,因此成为自旋电子学材料的一大研究热点。本文所研究的合金化合物为REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si),含有稀土元素、半导体元素以及ⅢA族元素Al,通过REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si)合金化合物的结构和磁性能的研究,得出REAlX半金属的成相及磁能变化规律。本文采用非自耗真空电弧炉在高纯氩气氛围下制备了 REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si)体系的多个多晶样品。对REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si)系列的衍射峰利用TREOR程序软件进行指标化,为进一步利用Rietveld对其结构进行精修提供晶格参数和晶胞体积数据;采用高灵敏度磁学测量系统SQUID-VSM测试了样品的热磁性(M-T)、磁化特征(M-H)曲线,并用相关模型进行拟合讨论。根据测试和对测试数据的分析处理,REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si)系列的相结构均为I41md的体心四方结构。在每个晶胞中,稀土原子RE和Al原子占据两个非等效的4a(0,0,z)晶位,半导体原子Si或Ge原子占据4a(0,0,0)晶位。在一个晶胞里,沿a轴方向的A层与B层,分别存在两个方向相反的、由Ge3,Al3和RE3构成的等腰三角形△和▽,并以A、B层为基础交替叠加形成晶胞,且沿c轴方向,形成C4旋转对称轴。由于缺少空间反演对称性,因此形成非中心对称结构,由此易形成Weyl点,从而可能引起特殊的磁相应。扫描电镜对REAlX(RE=Nd,Sm;X=Si,Ge)的微观组织结构形貌展示:样品的颗粒大小分布均匀且不存在团聚现象,经过能谱分析,发现各样品的元素的实际原子比几乎均为1:1:1。热磁特征研究显示:REAlX(RE=Nd,Sm;X=Ge,Si)系列分别呈现自旋玻璃和反铁磁性特征,其来源于两个方向相反的、由RE3构成的等腰三角形Δt-▽↓之间的相互作用。顺磁区域服从Van Vleck顺磁特性。有效磁矩主要来源于三价稀土离子。文章的最后,指出了本文研究中存在的问题和改善的构想。