随着科技的进步,高精度系统的需求量已变得越来越大。校准是提高高精度系统准确性的一个必不可少的过程,但是校准需要在校准系统中添加一系列复杂的设计电路,这些可能包括大量的引脚,开关,电阻,电容,硬件和软件。为了解决这个问题,本文提出了一种新的方法,它采用双积分型ADC(Analog-to-Digital Converter,模数转换器)来代替校准系统中复杂的设计电路。在这种新颖的方法中,双积分型ADC输入一个直流信号,内部转换为n位的数字信号,再把数字信号的其中几位当作校准信号。通过这种方式,双积分型ADC的结构很简单,易于实现,只需要很少的元件和引脚。用作校准数字信号的比特数取决于ADC的分辨率,而分辨率又取决于集成电路中的前端积分放大器的精度和的充放电时间的准确度。然而,积分放大器存在失调和噪声,其中,失调是由器件的失配和制造偏差引起的,而噪声是由输入和反馈电阻噪声,运放的固有噪声引起的。为了减小失调和噪声,积分放大器采用差分结构,缓冲放大器采用自偏置结构实现。另外,控制充放电时间的准确度是非常困难的,所以数字控制模块是用Verilog代码编写来提高充放电时间的准确度,实现了关键时序路径上的各种约束。在传统的0.25微米CMOS工艺下设计一个16位的双积分型ADC。仿真结果表明,积分放大器的失调电压是为7μV,积分放大器噪声为nV级,缓冲器放大器的失调为5μV,当加入1MHz的时钟频率,2V的参考电压和0.5V的直流输入电压时,仿真得到的转换时间为81.86ms,数字输出为4000(十六进制)。