温度是确定物质状态重要的参数之一,温度的测量与控制直接和生产安全、生产效率、产品质量、能源节约等重大技术指标相关。红外成像测温技术凭借非接触、测温精度高等优点取得了飞速发展,在工业生产中得到了广泛应用。但由于材料工艺、加工工艺以及目标发射率等多种因素的影响,红外成像仪还存在着非均匀性以及测温精度等许多亟需解决的问题。本文选择中波和长波红外成像仪进行实验室标定实验,完成了焦平面阵列的非均匀性校正,提出了双波段发射率补偿方法,并给出了双色红外成像仪的测温方程。针对焦平面阵列的非均匀性问题,分析了非均匀性产生的原因,介绍了焦平面阵列的线性和非线性响应模型,详细介绍了两点校正、多点校正以及非线性校正等几种非均匀性校正算法。本文提出了一种基于非线性响应模型校正算法的改进方法,计算探测单元响应输出值与理想输出值的差值,建立差值与响应输出值的非线性模型,完成焦平面阵列的非均匀性校正。结果表明,本文中的非均匀性得到了很好的校正。红外焦平面阵列由于多种原因,不可避免的存在很多盲元。本文分析了盲元产生的原因,介绍了常用的几种盲元检测方法:定义法、基于背景和黑体的检测法、双参考缘响应差值法以及基于“3σ”原则的加窗检测算法。同时还介绍了包括线性插值法在内的多种常用盲元补偿算法。并给出了基于“3σ”原则的加窗检测算法和邻域补偿算法的结果,结果表明本文的盲元问题得到了很好的解决。本文还进行了红外热像精确测温技术研究。介绍了红外辐射基本理论及红外测温的基本方法,给出了红外测温的基本方程。在比色测温方法的基础上,推导了双波段测温方程。为了减小目标发射率对测温精度的影响,本文利用双波段温度比值补偿目标发射率比值。并进行了实验室温度标定实验,建立了红外成像仪双波段输出数字值与对应标定源的温度值之间的关系曲线。