随着科技的进步,颗粒在国民经济中所起的作用越来越大,研究颗粒的特性,尤其是颗粒的尺寸大小,已日益受到人们的关注和重视。国内外发展了很多种测量颗粒的方法和仪器,特别是光散射测粒法,由于其独特优点而得到了广泛应用。论文介绍了国内外常用的颗粒测量方法,并对它们的应用范围进行了分析对比。在此基础上,提出了本课题的研究任务——基于动态光散射法的超细微粒测试技术研究。接着,论文详细阐述了动态光散射的测量原理及反演算法,分析了这种测试技术的适用范围。它是一种以多普勒频移效应为理论基础的测试方法,适用于亚微米/纳米级微粒粒径分布的测量。动态光散射法测量微小颗粒粒径具有测试精度高、不污染被测对象的优点。但是由于测量仪器价格昂贵,实验条件要求较高,反演算法复杂,目前在我国相关的研究工作较少。本文利用Brookhaven 公司的BI-9000AT 型数字自相关器,对动态光散射的实验方法以及反演算法做出了较为深入的研究工作。首先,根据动态光散射原理进行了实验方案的设计;建立了动态光散射实验系统,采用标准粒子对它进行了多次标定测试,同时也验证了系统的可靠性与稳定性。然后对不同粒径微粒样品进行了大量动态光散射测量实验,提出了目前实验室环境下对超细微粒测量的改进方法。对今后的实验研究具有一定的指导意义和实用价值。在已获得实验数据和对现有反演算法深入研究的基础上,论文提出并实现了一种新的基于遗传算法的反演方法,它通过对动态光散射函数进行优化,得到该函数的反演结果。论文从模拟数据和实测结果两方面,对已有算法与基于遗传算法的反演方法进行了对比分析,结果证明该算法能够精确的反演出各种分布的粒子尺寸及分布,同时具有对于噪声不敏感的优点,适合于各种亚微米级/纳米级微粒尺寸及分布的测量。