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随着超大规模集成电路集成度的增加及其制造工艺的飞速发展,单个芯片上集成的晶体管数目越来越多,原有的垂直型芯片设计模式已向水平型设计模式转变,通过复用IP芯核,片上系统(SoC, System-on-Chip)的功能愈发强大。SoC设计缩短了电路设计周期、降低了设计风险,但同时也带来了测试数据量的快速增加和测试应用时间的快速增长,使得SoC测试面临着巨大的挑战,而内建自测试(BIST, Built-In Self-Test)方法很好地解决了这一难题。与传统的外部测试方法相比,内建自测试方法将全部测试资源都移到了芯片上,通过在电路内部建立测试向量生成、测试向量施加、测试响应分析和测试控制结构,使电路进行自身测试,彻底摆脱了对昂贵的自动测试设备(ATE, Automatic Test Equipment)的依赖,从而可以大大降低测试成本。鉴于线性反馈移位寄存器(LFSR, Linear Feedback Shift Registers)重播种方法是工业界广泛使用的一种BIST方案,本文重点研究基于LFSR重播种的测试数据压缩方法。本文在分析比较了国内外几个典型的LFSR重播种方法和研究了ISCAS-89部分标准电路的硬故障集的基础上,结合LFSR重播种方法中生成种子的长度受到测试集中测试向量确定位最大数目Smax制约的特点,提出了一种基于等确定位切分的LFSR重播种方法。该方案先将所有测试向量通过某种排序策略将其串成一条数据流,按照确定位个数相等的策略对该数据流进行切分,使得到的新测试向量集中的每个测试向量所含有的确定位个数相等,然后对得到的新测试向量集进行LFSR编码,达到了测试数据压缩率高、硬件开销小的目的。同时本论文还推导出了建议方案的马尔可夫链理论模型和选择帕累托最优基准值S的理论模型。针对ISCAS-89部分标准电路硬故障集的实验结果显示:建议方案的测试数据压缩率要优于目前国内外同类方法,且建议方案具有解压结构和传输协议简单等特点。