声波在声子晶体中的传播行为引起了科技工作者的广泛关注。在声子晶体带隙范围，使得其中的声波能量迅速地指数衰减，因此利用声子晶体带隙可以实现声波控制。进一步的研究表明，局域共振声子晶体具有显著不同的带隙特点，局域共振型声子晶体的局部共振使有效质量密度为负值，形成低频带隙的特性。本文以局部共振为基础为声子晶体的设计以及实验提供定量指导，对于声子晶体在低频降噪减振的应用有重要意义。本文研究运用光外差测量技术为主导测试方法，运用压电陶瓷激励声子晶体薄板，采集代表声子晶体表面振动形式的光电信号，采用锁相解调电路处理信号。且在锁相解调电路中，首先，设计使用锁相放大器SR844实现微弱信号振动检测；然后采用自行研制的锁相环电路代替SR844，利用二组不同方法来解调声子晶体共振频率，组成了新型的测试及信号处理系统。该系统成功实现了声子晶体振动的测量，有望能够成为以后声子晶体器件的测量系统，对于未来声子晶体薄板设计及检测有重要意义，广泛应用于精密位移和角度测量领域。