近年来,集成电路技术日新月异。人们要求电路既要有强大的功能,又要有较高的可靠性。由于电路密度快速增加,而外部管脚数目因受几何尺寸限制增加缓慢,在芯片外部很难对其进行控制和观测。于是,人们引入了可测试性设计方法来解决这个问题。内建自测试是一个被广泛使用的可测试性设计方法。最近,一种由被测电路自己施加测试矢量的内建自测试方法被提出。该方法使用Mintest确定性测试集,对被测电路施加第一个测试矢量以后,将被测电路中一些内部节点的响应值用捕获寄存器捕获,把这些响应值反馈到被测电路的输入端作为下一个测试矢量。本文对Mintest测试集中的无关位进行了研究,提出了一种无关位赋值方法用来提高被测电路自己施加测试矢量方法的故障效率。参照电路内部节点的响应,对下一个要输入的测试矢量中的无关位进行合理赋值,可以延缓备选反馈节点数目的减少速度。这样每一组反馈生成的属于Mintest测试集的矢量个数就会更多。在此基础上,本文提出了一种基于被测电路自己施加测试矢量方法一般反馈方式动态变换无关位的方法。大部分电路的一般反馈方式需要进行多组反馈才能达到期望的故障效率。每组反馈都能生成Mintest测试集中的部分矢量和一些额外的测试矢量,由于这些额外测试矢量可以检测到一些新故障,剩余的确定性测试矢量需要检测的故障数就少了。故障集减小,就可以在Mintest测试集剩余测试矢量中变换出更多的无关位。利用前一组反馈测试在剩余测试矢量中变换出更多的无关位,可以提高一般反馈测试最终的故障效率。使用含有无关位的Mintest测试集在benchmark 85基准电路上的模拟实验结果表明:利用无关位的方法与原方法相比,分组完全反馈方式需要的反馈组数有所降低;一般反馈方式在不增加开销的前提下,提高了平均故障效率。