无线射频识别技术(Radio Frequency Identification,RFID)是一种在多个领域广泛使用的非接触自动识别技术。典型的RFID系统由读写器、电子标签组成。与条形码和磁卡相比,RFID所具有的读取速度快、免接触式操作、数据的记忆容量大、抗干扰性强,读取距离远等优势,使其成为识别技术的发展方向。但是,RFID系统的性能受到依附物材质、传输带速率、交互方式、标签粘贴位置等多种因素的影响。随着RFID产品标准的进一步完善和确立,就需要对RFID的性能进行测试,保证产品性能与标准的一致性。RFID的基带频率偏差检测就是其中一项很重要的内容。标签返回的高频信号被读写器天线接受后,经过特定的信号处理过程(如放大、解调)后得到基带信号。在不同数据速率和温度下,RFID标准对于频率偏差有不同的要求,这就要求对RFID的基带频率偏差进行测试,本文完成了RFID基带频率偏差检测的理论设计。本文采用基于滤波器的方法,即首先对采样信号进行FIR低通滤波,然后相关运算完成数据解码。最后通过如下方法估计频偏。对于已知环境噪声中的频率偏差检测,通过预设门限的方法确定。考虑到频偏估计对编码电平采样点数的敏感性,边界点需要细致的判决。首先通过滤波前后边界点与预设门限的比较确定权值。然后通过预估结果与不同频率偏差下的采样序列的加权比较确定频偏。对于未知噪声环境中的频率偏差检测,通过波形变换的方法确定。首先通过采样信号的适当抽取构造余弦的4倍采样波形,通过功率谱密度分析确定频偏。在MATLAB下的仿真结果表明:在最佳的测量长度下,如果信噪比大于3dB,预设门限法的测量准确率可以达到93%以上。当测量长度大于100个编码长度时,波形构造法的准确率可以达到99%以上。