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目的：本课题通过观察SHG44细胞经不同剂量60Coγ线照射产生的染色体损伤；研究不同浓度WORT与60Coγ线照射对SHG44细胞增殖、细胞周期和细胞凋亡的影响；以及活性Akt转染SHG44细胞观察照射后细胞增殖和细胞凋亡的变化，探讨SHG44细胞辐射抗性与AKT的相关性。 方法：（1）应用胞浆分裂阻滞微核法观察SHG44细胞微核率（MNF）、微核细胞率（MNCF）的变化；（2）应用MTT法、克隆形成法研究SHG44细胞增殖活性的变化；（3）应用乙醇固定后染色的流式细胞术观察细胞周期分布的变化；（4）应用吖啶橙（AO）／溴化乙啶（EB）染色后激光共聚焦显微镜（LGSM）法观察细胞凋亡形态特征。（5）电穿孔技术将活性Akt转染SHG44细胞，RT-PCR鉴定外源Akt mRNA表达。 结果：（1）SHG44细胞MNF和MNCF均随照射剂量增加而升高；在2Gy剂量范围出现“肩区”，3、4Gy剂量照射后MNF和MNCF提高更明显；（2）SHG44细胞存活率在1.00×10-8～5.00×10-7mol／L范围随WORT浓度升高而降低，5.00×10-7～5.00×10-6mol／L范围随WORT浓度升高变化不大，1.50×10-5～3.00×10-5mol／L浓度范围又随WORT浓度升高而降低。细胞增殖能力检测结果表明SHG44受不同剂量60Coγ线照射后细胞存活率随照射剂量升高而降低；与WORT有交互作用，WORT阻滞AKT活性后照射组SHG44细胞存活率均低于单独照射组。细胞周期检测结果表明单独WORT处理后G2／M、S期细胞比例增加，而G0／G1期细胞比例降低，凋亡细胞比例为1.0％；单独10Gy60Coγ线照射后G0／G1、S期细胞比例无明显变化，而G2／M期细胞比例降低，凋亡细胞比例为9.3％。WORT阻滞AKT活性后照射组SHG44细胞G0／G1期细胞比例明显增加，而S期、G2／M细胞比例降低，凋亡比例明显增加到23.4％。AO／EB染色结果显示WORT诱导SHG-44细胞凋亡以细胞膜变化为主，呈浓度依赖性；辐射诱导细胞凋亡以核形态变化为主，照射后细胞核形态不规则并出现核碎裂、微核或凋亡小体样碎片；WORT阻滞AKT活性后照射组细胞核、膜的变化更显著。（3）细胞生长密度随电击电压升高而下降，SHG44细胞在780V电压下约存活50％，在此条件下pEGFP-c1的转染效率大于80％；GFP在细胞浆内表达并在转染后48-72h