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目的:本课题通过观察SHG44细胞经不同剂量60Coγ线照射产生的染色体损伤;研究不同浓度WORT与60Coγ线照射对SHG44细胞增殖、细胞周期和细胞凋亡的影响;以及活性Akt转染SHG44细胞观察照射后细胞增殖和细胞凋亡的变化,探讨SHG44细胞辐射抗性与AKT的相关性。 方法:(1)应用胞浆分裂阻滞微核法观察SHG44细胞微核率(MNF)、微核细胞率(MNCF)的变化;(2)应用MTT法、克隆形成法研究SHG44细胞增殖活性的变化;(3)应用乙醇固定后染色的流式细胞术观察细胞周期分布的变化;(4)应用吖啶橙(AO)/溴化乙啶(EB)染色后激光共聚焦显微镜(LGSM)法观察细胞凋亡形态特征。(5)电穿孔技术将活性Akt转染SHG44细胞,RT-PCR鉴定外源Akt mRNA表达。 结果:(1)SHG44细胞MNF和MNCF均随照射剂量增加而升高;在2Gy剂量范围出现“肩区”,3、4Gy剂量照射后MNF和MNCF提高更明显;(2)SHG44细胞存活率在1.00×10-8~5.00×10-7mol/L范围随WORT浓度升高而降低,5.00×10-7~5.00×10-6mol/L范围随WORT浓度升高变化不大,1.50×10-5~3.00×10-5mol/L浓度范围又随WORT浓度升高而降低。细胞增殖能力检测结果表明SHG44受不同剂量60Coγ线照射后细胞存活率随照射剂量升高而降低;与WORT有交互作用,WORT阻滞AKT活性后照射组SHG44细胞存活率均低于单独照射组。细胞周期检测结果表明单独WORT处理后G2/M、S期细胞比例增加,而G0/G1期细胞比例降低,凋亡细胞比例为1.0%;单独10Gy60Coγ线照射后G0/G1、S期细胞比例无明显变化,而G2/M期细胞比例降低,凋亡细胞比例为9.3%。WORT阻滞AKT活性后照射组SHG44细胞G0/G1期细胞比例明显增加,而S期、G2/M细胞比例降低,凋亡比例明显增加到23.4%。AO/EB染色结果显示WORT诱导SHG-44细胞凋亡以细胞膜变化为主,呈浓度依赖性;辐射诱导细胞凋亡以核形态变化为主,照射后细胞核形态不规则并出现核碎裂、微核或凋亡小体样碎片;WORT阻滞AKT活性后照射组细胞核、膜的变化更显著。(3)细胞生长密度随电击电压升高而下降,SHG44细胞在780V电压下约存活50%,在此条件下pEGFP-c1的转染效率大于80%;GFP在细胞浆内表达并在转染后48-72h