自Bard观察到半导体纳米晶体(_NCs)的电化学发光（ECL）现象以来，半导体纳米晶体ECL结合了半导体、电化学和化学发光等优势成为ECL分析中的新领域而发展迅速。近十年来，研究人员观察到了越来越多的半导体纳米晶体能够产生ECL现象；基于半导体纳米晶体的ECL制备了半导体纳米晶体固态ECL传感器并应用于生物、环境分析领域。三氧化钨（WO₃）由于具有突出的电致变色、气致变色、热致变色和光致变色等性能而被广泛关注。然而，关于WO₃的ECL性能的报道并不是很多。本论文结合了近年来三氧化钨的研究成果，合成了三氧化钨纳米晶体（WO₃NC_s）和多壁碳纳米管/三氧化钨纳米晶体(MWCNT/（WO₃）_NCs)复合物，探索了两种材料的ECL性能。此外，还利用MWCNT/（WO₃）_NCs复合物制备了ECL传感器并研究了该传感器的ECL性能与应用。利用水热和高温煅烧法合成了WO₃NC_s，并利用SEM、XRD、XPS、UV-vis和PL等手段对材料的结构、性质进行了表征。利用Nafion膜将WO₃NC_s固定在电极表面制备了（WO₃）_NCs/Nafion膜修饰电极；利用实验室组装的ECL检测装置对WO₃NC_s的ECL性能进行测试。研究结果表明WO₃NC_s具有良好的ECL性能；在不含有三丙胺（TPrA）的缓冲溶液中会产生一个ECL峰，而在含有TPrA的缓冲溶液中会产生两个ECL峰。此外，对WO₃NC_s的ECL现象提出了合理的ECL反应原理。利用乙醇回流和高温煅烧法合成了MWCNT/（WO₃）_NCs复合物，并采用SEM、XRD、EDS、UV-vis和PL等手段对复合物的结构、性质进行了表征。利用Nafion膜将MWCNT/（WO₃）_NCs复合物固定在电极表面制备了MWCNT/（WO₃）_NCs/Nafion膜修饰电极，利用实验室组装的ECL检测装置对MWCNT/（WO₃）_NCs复合物的ECL性能进行测试。研究结果表明MWCNT/（WO₃）_NCs复合物具有良好的ECL性能；在含有TPrA的缓冲溶液中能产生两个ECL峰，其ECL反应原理与WO₃NC_s的ECL反应原理相符合。而且，MWCNT/（WO₃）_NCs复合物的ECL强度高于该方法合成的WO₃NC_s的ECL强度。因此，该方法合成的MWCNT/（WO₃）_NCs复合物不仅具有良好的ECL性能，还为ECL传感器提供了一种良好的材料。利用MWCNT/（WO₃）_NCs/Nafion膜修饰电极构建了ECL传感器，探索了该传感器的稳定性，并将其应用于N,N-二甲氨基甲基二茂铁的检测。研究结果表明MWCNT/（WO₃）_NCs复合物ECL传感器的电化学发光稳定性良好，能够检测N,N-二甲氨基甲基二茂铁(线性范围为10^-95×10-8mol/L，检测限为7.9×10^-10mol/L)。