随着科学技术的日益进步，许多可测性设计方法得到广泛研究并应用于提高集成电路的测试质量和降低成本。内建自测试方法是其中研究较为深入且使用较为广泛的一种，该方法是指一个系统对自己进行测试的技术和电路配置，具有测试复杂度低、测试时间短、故障覆盖率高等优点，已经逐渐成为今后研究的一个重点方向。本文深入研究了数字电路的故障模型、测试的基本理论、自动测试向量生成的各种算法，尤其在深入研究确定性测试生成算法—PODEM算法的基础上，设计开发了一个用于研究测试向量的数字电路测试生成平台。该平台通过读入电路的网表文件来分析电路结构，计算电路各节点的可控性和可观性，并进一步为电路生成确定性的测试向量，同时给出了测试向量集的故障覆盖率。其次，在此测试生成平台的基础上，本文还研究了内建自测试向量生成方法，详细分析了LFSR生成伪随机序列的方法，给出了LFSR反馈形式与初始状态的选择方法。并对LFSR进行改进使其能够得到包含全零状态在内的完全伪随机序列。为了剔除伪随机测试序列中包含的许多无用序列，降低测试序列的长度，本文提出了种子重播方法，按照由确定性算法生成的测试向量求得LFSR的种子，在测试时将种子加载至改进后的LFSR中，这样便可由该LFSR快速地生成所需的测试序列。