近些年社会进步的速度越来越快,生活中人们对于电子设备或系统的依赖度也在不断增大。随着微电子器件技术的不断发展和完善,微电子器件的集成度得到提高,并且电子设备或系统静电放电的电磁敏感性也有了很大的提高,抗过电压能力降低;数据显示在我们如今的电子工业中,大量集成电路失效或者损坏是造成每年巨大经济损失的重要原因。而其中约占1/3的比例是由于静电放电造成的集成电路故障或损坏【1】。目前的IEC等标准对于ESD模拟器有统一规定,规定其具有两种放电方法:接触放电和空气放电【2】。接触放电因为具有较好的试验重复性和再生性,被IEC6100042标准规定为主要试验方法,但它也存在不足比如不能模拟实际静电放电的过程,在某些场合并不适用等。空气放电涉及到外部火花通道的形成、放电电压的大小与极性、环境温湿度、电极接近速度等因素,这些因素都会对放电过程起到显著影响【3】,因此,空气式放电事件的放电重复性比较低。但空气式静电放电是对电子器件或系统形成干扰或引起损伤的主要形式之一同时也是现实工程技术和生活环境中存在较为广泛的放电现象,对电子工业具有至关重要的研究意义。综上所述,对影响空气静电放电特性因素的研究,可以为空气式静电放电以及电子电气系统的静电放电的灵敏度测试标准的修订和完善提供理论参考。对实现电子设备潜在失效性的预测,降低电子设备潜在失效性威胁,提出改进措施等都具有重要的参考价值和现实意义【4】。影响空气式ESD事件的因素主要有环境温湿度,电弧长度,电极移动速度以及电极极性等,现有的文献对此类因素的影响机理较为模糊,存在不完善之处,本文通过对实验结果的演示和说明,综合相关的理论研究对各影响因素,以湿度、温度为主进行了详细理论分析。目的在于为进一步探索降低空气式静电放电干扰,提高电子设备抗扰度提供较为明确系统的理论基础。此外,文章中还介绍了一种由笔者导师团队自主设计完成的新型静电放电模拟实验箱,该静电放电测试系统通过一系列精巧的机电一体化设计,从根本上解决了电极须高速直线向靶运动放电与可能因强烈撞击造成测试仪器损坏的难题。该实验箱目前仍然存在不完善之处,笔者基于自身的专业基础针对该实验箱提出了一种温湿度控制的改进方案,并简要介绍了相应的电路软硬件设计,为以后实施改进提供一种思路方法。因时间仓促,研究难免有不到之处,在文章的最后对该研究的不足和以后有待改进之处也做了简要说明,恳请读者不吝指正。