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该文首先论述了在扫描成像和并行成像中如何通过高精度小步长的扫描和数据重组实现过采样.重点介绍了直接解调方法的基本内容、主要特点以及应用该方法的关键——约束条件的求解方法.在介绍STM原理、特点之后,通过对STM测量过程中关键参数的分析,作者得出STM是扫描精度比其固有横向分辨(由针尖大小决定)高一到两个量级的扫描成像系统的结论.并用单原子像逼近法得到了STM的点源扩展函数;详细报道了用直接解调方法重建六角石墨STM图像的过程和结果.详细分析了直接解调方法在内步辐射成像、谱学、散射衍射中应用的可行性和潜力.并以过采样和直接解调法结合提高CCD分辨率为例说明提高二维面探测器分辨率的过程.