本文首先介绍了电光调制的背景以及电光调制的应用,特别介绍了电光调制在偏振编码中的应用,其次详细阐述了电光调制的原理以及基于电光调制的电光调制实验,针对现有电光调制实验只能通过示波器观察波形图,不能提取图像数据,也不能对其进一步处理,设计了新的电光调制实验系统,设计的实验系统包括激光器、偏振棱镜、电光晶体、四分之一波片、CCD图像接收设备,实验可以利用CCD接收激光通过电光晶体等元件之后的图像数据。在此基础上,利用MFC中的VFW视频编辑软件编写电光调制图像数据采集软件系统,并将CCD接收到的图像导入软件系统中,从而利用设计的软件系统对获得的图像数据做进一步的分析计算,得到晶体的半波电压,以及晶体锥光干涉图的一些基本特性。实验结果表明,设计的软硬件系统可以正常使用,达到了要求,能够实现所需要的目标。这样就为后面通过对这些实验数据的分析,对晶体的锥光干涉图做进一步的研究,进而对晶体的偏振编码进行研究提供了系统条件。