随着半导体存储器工业技术的迅速发展，存储器芯片的集成度不断提高，而外围引脚数却有一定限制，许多功能子电路被封装在芯片内部，要从外部对其进行控制和观察很困难，即使采用高档的自动测试设备也很难对某些测试点进行测试。随着存储器件在集成电路系统中所占比重的不断加大，研究如何对存储器进行高效测试具有重要的理论价值和实际意义。　　本文在深入研究 IEEE1149.1标准的基础上，设计了基于边界扫描技术的存储器测试系统。本文结合存储器测试理论，进行功能测试需求分析，着重对存储器测试软件设计进行深入研究探讨，实现并详细阐述了基于TCL语言的存储器测试脚本设计、存储器外围线和存储单元的测试算法设计以及测试矢量生成方法。此外还应用该测试方法和所设计的测试系统对被测存储器DEMO电路进行了实际测试。　　从实际的测试结果来看，对存储器外围线路、内部单元的测试算法分析有效可行，测试方法正确；测试系统的测试软件设计达到了预定的设计目标，针对具体不同的存储器被测对象，只要对测试脚本稍加改进，就能使用本文设计的测试方法进行功能测试，实现了测试系统的通用性。