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随着移动通信产业的快速发展,移动通信的带宽需求日益增长,为解决频率资源稀缺问题,研究人员提出了TD-LTE技术来推动3G-4G演进进程。为占领新一代信息通信产业的至高点,我国研发TD-LTE终端基带芯片势在必行。本论文是基于自研的TD-LTE终端基带芯片,开发其功能应用验证平台,搭建完整的系统测试环境,验证芯片是否能满足其性能指标,并完成对芯片的功能应用,在整个项目实施中承担重要角色,本文主要研究工作如下：首先,从不同角度阐述验证技术的定义以及分类。通过比对不同验证技术的优缺点和适用范围,并结合本芯片的验证规模,最终确定了使用FPGA原型验证技术和功能应用验证技术可满足芯片验证。本文根据芯片功能指标制定FPGA原型验证方案,并基于搭建好的FPGA原型验证平台进行芯片设计验证,采集并分析了信号数据与波形,证明了设计的准确性,确保可顺利流片。原型验证结果为功能应用验证平台的设计提供了强有力的仿真依据。其次,重点研究与设计了TD-LTE终端基带芯片的功能应用验证平台,详细阐述了各模块的电路原理设计、PCB设计等,且完成整个系统的PCB设计与制板。此外,为保证信号完整性,对重要信号进行信号完整性(SI)仿真,并通过仿真波形,调整部分信号线的走线长度、位置等,使得系统更好地满足了指标要求。最后,完成了TD-LTE终端基带芯片的功能应用验证平台的调试与测试,包括电源管理模块、时钟模块、CPU核、DSP核综合功能,并基于此平台搭建系统联合演示环境测试芯片功能指标。测试结果表明终端基带芯片的芯片速率、带宽支持、调制方式、天线模式等均可满足设计指标要求。