随着现代制造业的不断发展,精密和超精密加工技术的重要性日益凸显。数控机床作为加工的重要装备,也面临了新时代的机遇和挑战。提高数控机床的精度是提高数控机床产品质量、增强市场竞争力的关键所在。数控机床的误差问题成为了其发展的关键。测量技术则是改善与补偿机器误差的重要前提。圆轨迹测量对数控机床测量技术中重要的一个方面。现有的数控机床圆轨迹测量方法与设备,已经不能完全满足当代精密,高速加工的要求。新的测量技术的需求比较迫切。随着激光技术的发展,将激光技术与传统圆测法相结合,为数控机床的圆轨迹测量提出了新思路。本文系统阐述了数控机床的非接触式激光测量方法,并从以下几个方面进行了具体说明:(1)介绍新的数控机床测量方法――非接触式激光测量。对现有的数控机床误差综合测量方法设备进行归纳总结,分析他们的基本实现方式以及优缺点,并在此基础上介绍非接触式激光测量这一新的测量方法。对其物理结构,测量步骤,特点和优点进行了详细说明,并介绍了其原理和基本数学模型。(2)综合误差轨迹辨识方法和原理。在阐明数控机床误差源与圆轨迹之间的关系的基础上,着重推导了数控机床主要几何误差源的数学模型,并通过计算机仿真获得轨迹特征图。通过一个简单的圆轨迹图的辨识溯源,探讨了测量结果是如何反映机床所存在的各个单项误差。(3)非接触式激光测量测量精度分析。分析讨论了该方法的主要精度影响因素,并着重探讨了数控机床主轴姿态对该方法的精度的影响。(4)光路误差和拟合误差。根据非接触式激光测量方法的特点,提出了光路误差和拟合误差这两个该方法特有的误差因素。对这两个误差项的分析讨论,得出:光路误差基本不影响非接触式激光测量方法精度;拟合误差随垂直度误差变化,在垂直度误差较小时候对非接触式激光测量方法精度影响很小,并推导了补偿公式。(5)用工程实例,介绍了非接触式激光测量方法进行实施的一般流程。非接触式激光测量方法测量精确,操作方便,能够广泛应用,尤其在小半径高进给这一领域具备其他方法不具备的测量能力。是现有圆测法的有力补充和积