超高频RFID以其读取距离远、读取速度快、可靠性高等技术优势，在物流、交通、馆藏、电子票证等领域得到了广泛应用。然而，在大规模的应用中，超高频RFID不仅展现了其技术优势，也暴露了该项技术存在的缺陷。标签数据的正确无漏收集成为了影响超高频RFID技术进一步广泛应用的绊脚石。本文主要针对超高频RFID无漏识别技术进行相关的研究分析。本文在分析了超高频RFID无漏识别技术的国内外研究进展之后，依据超高频RFID系统的关键性能指标，分析了影响超高频RFID系统性能的主要因素；然后，针对部分关键因素进行了详细分析及实验；并且对于大量标签应用的场景，设计了一种算法能够实现标签的无漏读；最后，总结了影响超高频RFID系统性能的关键问题以及进一步的研究方向。本文的主要研究内容如下：首先，阐述了超高频RFID无漏识别技术的研究背景及意义，然后对超高频RFID无漏识别技术国内外的研究方向及研究进展进行了讨论。第二，在介绍超高频RFID系统的三个性能指标的基础上，重点分析了影响超高频RFID系统的性能的各种因素，简单分析了各因素对系统性能的具体影响。第三，依据具体实验数据验证了读写器单天线盲点的存在，理论分析及通过具体实验验证了多天线的应用能够提高超高频RFID系统的性能；针对多天线的应用提出一种能够提高系统效率的多天线盘存算法。第四，针对大量标签、密集标签应用，进行了相关无漏识别算法的研究，首先通过建立数学模型，分析了标签数量对超高频RFID系统性能的影响；然后经过具体实验数据分析了标签数量对系统性能的影响；设计了一种能够实现大量标签的无漏识别算法，并且通过具体实验进行数据分析以及性能分析。最后，对本文的工作进行了系统的总结；并针对超高频RFID系统无漏识别技术研究，展望了其进一步研究及优化的方向。