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TFT-LCD面板缺陷成像、提取、识别和分类方法研究
【摘 要】
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随着液晶面板行业的发展,薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)面板的尺寸越来越大,在面板缺陷检测技术上,传统人工视觉检测技术逐步被自动光学检测技术所替代,成为在提高企业生产效率和质量上的关键技术之一。本文主要研究了面板缺陷的提取,缺陷特征的提取与选择和缺陷多类别分类的问题。在缺陷提取部分,测试了基于谱残差的显著性模型,发现该模型对缺陷大小敏感,故对该模型进行改进并将其用于检测面板图像经二维离散傅里
【出 处】
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合肥工业大学
【发表日期】
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2020年01期
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