随着SOC（System-on-a-chip）技术不断发展，单个芯片上集成的IP核越来越多，芯片的性能和复杂度不断增加，使得SOC测试面临着越来越严峻的挑战。虽然通过提高自动测试仪（ATE）的性能，在一定程度上可以缓解这些问题，但是ATE设备的价格相当昂贵，使得测试成本往往不可接受。如何有效地降低测试成本，特别是测试数据的存储开销，已经成为学术界和工业界研究的一个热点问题。本文围绕SOC测试数据压缩进行了研究，详细介绍了SOC测试相关理论知识和几种常见的测试数据压缩技术，并对已有的测试数据压缩技术进行了改进，提出了两种新的方案，其中主要工作有：（1）提出了一种基于一位标识的测试向量混合编码压缩方法。将混合编码的测试数据划分成若干个数据块。每个数据块又包含两个子数据块，第一个子数据块采用双前缀单游程编码，第二个子数据块采用一位标识法。解压时，以第一个子数据块的长度来计算出第二个子数据块的长度。这样，减少了一部分需要编码的数据。实验结果表明：该方法平均压缩率可达到66.70%。为了获得更好的压缩效果，依据向量含无关位X比率的大小,对其进行了不同的处理：将整个测试集分成两组，无关位X比率较大的一组向量采用混合编码，无关位X比率较小的一组向量采用双前缀双游程编码。实验结果表明：该方法平均压缩率提高了2.04%。（2）提出了一种基于测试向量重排序的差分编码压缩方法。依据向量之间的相容性，从两个方向对测试向量进行排序，再进行差分，最后使用FDR编码进行压缩，压缩效果较单方向排序方法提高了2.30%。