传统的毫米波辐射计系统受天线物理孔径的限制导致空间分辨率低,阻碍了毫米波辐射计实际应用的推广。综合孔径毫米波辐射计采用稀疏的小孔径天线阵列合成等效为大的实孔径天线,大大降低了天线的制作复杂度,其体积小、分辨率高、成像快等特点更好地满足了实际应用的需求。首先,本文介绍了综合孔径毫米波辐射计系统误差校正的理论基础。包括一维、二维图像反演成像原理,以及已有的三种典型综合孔径毫米波辐射计系统结构。在了解了系统的构成后,还对系统各部分硬件进行了误差分析,并介绍了已有的软硬件误差校正技术。其次,本文基于建立的阵列误差输出数据模型,分析了两种盲校正法。并根据外部辅助源系统误差整体校正原理,研究了如下几种外部辅助源法校正阵元幅相误差、天线互耦、天线位置误差：1)外部单辅助源法。采用一方位已知、能量较强的辅助源,根据误差模型的结构特点,估计出通道幅相误差参数。2)基于阵列旋转的外部单辅助源法。采用一方位已知、能量较强的辅助源,并通过旋转天线阵列获得多个方位的测量数据,估计出通道幅相误差和天线位置误差参数。3)外部多辅助源法。采用多个方位已知的辅助源,结合阵列接收到的目标信源测量数据和阵列同时接收到的目标信源和辅助信源测量数据,消除了通道加性噪声的影响,并利用互耦矩阵的稀疏性设定约束条件,估计出阵元幅相误差和天线互耦误差参数。最后,本文通过仿真试验,验证和比较了本文研究的几种外辅助源方法对阵列误差参数估计的准确性,并利用这几种方法校正误差反演图像。