在电磁兼容设计中屏蔽设计是至关重要的，在屏蔽设计中不可避免需要使用屏蔽材料，而屏蔽效能是评价屏蔽材料性能的重要指标，对材料生产过程中的质量控制非常重要。所以研究材料的屏蔽效能测试方法具有重要的意义，本文主要针对于平板型屏蔽材料。　　本文介绍并对比了目前国内外常用的平板型材料屏蔽效能测试方法，屏蔽室法、远场法和近场法。本课题在远场同轴传输线测试方法基础上设计制造了10GHz材料远场屏蔽效能测试装置。首先对ASTM D4935及课题组已有的法兰同轴测试装置进行了等效电路分析和对比，基于同轴线传输理论建立了测试装置的基本模型；然后运用电磁仿真软件HFSS11.0对影响测试装置性能的主要参数进行扫描优化；再根据基本模型和仿真结果给出了测试装置的整体结构，并对其进行了加工制作，指出了加工中的难点和解决方案；对测试装置进行了性能测试，包括电压驻波比VSWR、反射参数S11、传输参数S21，并将仿真结果与实测结果进行了比较，运用时域测试方法找出了测试装置反射较大的位置；最后将材料屏蔽效能理论计算值与HFSS仿真结果比较，得到下列的结论：此测试装置适用于电薄及电厚型材料远场屏蔽效能的测试；最终运用10GHz材料远场屏蔽效能测试装置对两种丝网型材料进行了屏蔽效能的测试。　　10GHz材料远场屏蔽效能测试装置可测试的频率范围为10MHz～10GHz，在此频率范围内，电压驻波比最大值为1.6，频率较低时，电压驻波比较小；对材料屏蔽效能测试结果进行分析可知，此测试装置在低频测试时，其可重复性较差。