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下丘脑神经元在大鼠出生后逐渐表现出对温度的敏感性，这种敏感性体现在动作电位幅度、间期和放电频率的变化上。本文主要围绕SD大鼠出生后18天内钾电流活动动力学的变化及对热敏感性发育的影响，采用电流钳与电压钳技术，分四个部分对不同发育阶段急性分离神经元在不同温度下的兴奋性和相应的钾电流活动展开研究，主要结果如下： 一．膜被动特性在出生最初几天变化比较显著，静息膜电位从P1时的-42.6±2.1mV向负电位移动至-61.3±3.4mV(P＜0.05)，温度对静息膜电位没有明显影响；膜输入阻抗则由P1时的2721±367MΩ降为P18的605±77MΩ(P＜0.05)，升高温度则使膜输入阻抗减小。 二．在急性分离的下丘脑神经元上不能记录到自发性动作电位，给予电流注射绝大多数只能记录到单个动作电位。相对P1而言，P18神经元动作电位幅度增高，1／2幅度间期收窄，去极化和复极化速率增快。前电位去极化上升率明显提高，快速超极化后电位表现出幅度增高，温度升高对动作电位前后电位有相似的影响。 三．钾电流主要参与动作电位的复极化过程。0.2mM的4-AP可以使P1全细胞延迟整流性钾电流减少51.5％，P18减少72.4％，表现在兴奋型上使P1和P18神经元动作电位1／2幅度间期延长，分别延长24％和33％。 四．在神经元的蛋白水平检测延迟整流性钾通道的活动，结果表明发育和温度可以对电流的活动动力学产生很大的影响。不同发育时期通道蛋白的离子通透性没有明显变化，在80pS左右，开放概率随出生时间的变化而升高，通道活动密度由P1时的0.14channel／μm~2升高到P9时0.26 channel／μm~2，之后保持相对稳定，活动曲线呈现为“S”形；电压依赖性Po-V曲线向左上方移动。而升高温度则可以使通道的离子通透性显著升高，开放时间延长(P＜0.05)，开放概率增加e倍所需要的电压值明显减小。在通道的Burst开放方面，温度对Burst开放的调节以适度延长Burst开放时间为主要方式，而发育则以增加长Burst开放的数目为主，同时，发育几乎不影响两个Burst开放之间的间期，但温度则可以大大缩短两个Burst开放之间的间期，呈现为对通道开放模式的调节。 以上结果表明，下丘脑神经元在发育过程中，温度敏感性表现为一个动态变化的过程，受到包括周围神经元突出输入信号的影响。钾电流动力学的发育变化在其中起着重要的作用，这种作用主要体现在对动作电位复极化速率和前后电位的某些方面的影响上，但神经元热敏感性发育分化的进一步机制尚需在保持周围神经元连接完整的脑片上结合分子生物学的单细胞RT-PCR方法才能彻底探讨清楚。