本文以SOT封装类型芯片为实验对象设计了一套基于机器视觉的缺陷检测系统，该检测系统旨在通过图像处理的方法实现对3～6只引脚的SOT(Small-Outline Transistor)封装类型芯片的印刷字符和引脚的缺陷检测和缺陷类型分类。　　本课题并从工作台的设计、工业相机和镜头选型、实验平台的搭建到软件系统等方面进行了设计，并设计了平面检测模块和五边检测模块，平面检测模块负责对字符缺陷和部分引脚缺陷进行检测，五边检测模块负责对引脚其余缺陷进行检测，每个模块都包括相应的图像采集控制、图像处理和缺陷分类、区域选择、图像处理参数学习向导、像素当量标定、芯片规格设定、数据库存储、串口通讯和相机控制模块等。　　字符缺陷检测中，在对传统模板匹配算法的基础上对原图像进行缩放和动态更新检测区间降低模板匹配计算量，并设计了投影方法对单个字符位置进行检测，结合模板匹配位置参数、投影分割位置参数和字符完整度参数对字符缺陷类型进行判断。　　引脚缺陷检测中，在平面图像中引脚区域进行轮廓检测，并根据轮廓面积和轮廓长度进行筛选合适的轮廓，将合理的轮廓组合出引脚的实际尺寸;在五边图像中对引脚区域图像进行投影分割，根据投影直方图及其梯度图进行引脚的位置和尺寸测量，根据测量结果对引脚缺陷进行判断。　　本课题还设计了多线程的图像处理方法，根据程序执行先后顺序将数据通信、图像采集、图像处理、图像分析等功能模块分别封装到线程函数中，通过线程控制实现平面检测模块和五边检测模块的并行运行、同一模块中不同芯片检测的并行运行的操作，提高系统运行的实时性。　　通过与上位机进行联机调试，可以实现对SOT类型芯片字符进行打印错误、倾斜、缺失、未打印、打印模糊等缺陷进行检测，并可对引脚进行长度、宽度、跨度、间距、站立高度等缺陷的检测。仅考虑图像处理和缺陷类型分析两个过程，平面检测模块和五边检测模块运行耗时分别在25ms、10ms左右，可以满足系统的实时性要求。