随着集成电路技术和集成电路测试技术的飞速发展,集成电路的分选技术也紧随其后,得到了飞快的发展。随着集成电路测试技术的发展,现在的分选系统有了极大的提高,现在的分选系统主要是采用自动分选系统,即不用手工来分类。本课题所研究的是集成电路测试仪控制电路与分选系统接口,通过这个接口能够确保集成电路测试仪与分选系统之间正确的通信。通过集成电路测试仪控制电路与分选系统的接口,可以解读由测试仪和分选系统发出来的信息,并根据此信息来产生相应的逻辑信号作为状态信号发送给测试仪和分选系统。以实现对BIN的分类、多站点的控制,及延时的控制等。通俗地说就是对分选系统和测试系统所发出的信号,加以解读,产生相应的TTL信号,和准确的延时,从而确保测试系统和分选系统之间的正确通信。集成电路测试仪通过其接口控制电路,能够同时对两台分选机进行控制,即能够同时对两个PHI接口(集成电路测试仪与分选系统的接口)、四个站点进行控制测量。这样的搭配方式极其灵活,既可以选择单站点,又可以选择多站点以及串行、并行等不同的方式来搭配测量,极大合理的利用了测试资源。自动分选系统能够对测试完的集成电路进行错误分类(BIN),并且针对测试完的集成电路有自动下料机构和手动下料机构,我们既可以选择自动下料机构下料,又可以手动下料,极大的提高了集成电路分类的准确性和下料的灵活性。本课题所研究的监控系统又可以对系统中其他各路的电源进行监控,这样就确保了各路电源的工作正确性,为其他电路的工作减轻了后顾之忧。而继电器矩阵模块又能对继电器矩阵进行控制,在不同的控制方式下,能够对不同的通道测量进行选择,同时又可以控制电路控制对继电器的不同搭配来组成不同的测试电路,对集成电路的不同参数进行测量。