光纤通信以其独特的优越性成为当今信息传输的主要手段.光纤质量的好坏直接影响着整个通信网络的性能,而衰减又是评价光纤质量和传输特性的重要参量,所以对光纤衰减特性的测量显得尤为重要.该文所设计的光纤光缆衰减特性的测试系统,是利用光背向瑞利散射和菲涅尔反射原理,通过接收反向传输到入射端的光信号,对光纤沿长度的衰减情况进行测量的.在设计中,首先根据系统要求,选择光有源和无源器件,确定了整个光路部分,由于光传播速度快,使得光接收系统要具有高速的性能,选择了满足要求的芯片,设计合理的硬件电路,实现了待测光信号向数字信号的转换;然后选用单片机HD64F7045F28作为测试系统的控制器,实现了光路、模拟及数字三部分的协调工作,并控制以现场可编程门阵列(FPGA)为核心的数据采集系统,通过编写硬件电路的控制软件及FPGA的程序模块,实现高实时性的数据采集和存储,最后编写软件完成对采集数据的平均化、对数变换等处理,再将处理结果与光纤长度相对应,得到了光纤沿长度衰减特性的测试曲线.针对系统存在的测量误差,分析了一些主要影响因素,针对测试信号中含有大量的噪声信号,分析了噪声产生的原因,通过对去噪声方法的比较,采用了具有良好的时频域特性的小波变换对数据进行了去噪处理,得到了良好的效果.同时进行了系统的盲区分析及光纤接续损耗计算方法的分析.该文设计了一套光纤衰减的实验测试系统,其既可以测试沿光纤的衰减情况,如接头、断点等,又可以测试光纤的衰减系数,使其具有广泛的应用前景.