微波器件附加相位噪声测量技术的研究

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导航、通信等电子设备和系统的飞速发展,对于系统的相位噪声的要求越来越高。微波器件的附加相位噪声测量是这类系统的关键技术,对频率源和整个电子系统的相位噪声测量贡献巨大。  首先,本文研究了附加相位噪声测量系统以及组成模块的基本原理。设计并制作系统中的超宽带功分器、噪声电压放大器和基于声卡的数据采集及处理模块。然后建立了基于鉴相法X波段附加相位噪声测量系统,并对系统进行校准以及灵敏度的测量。利用本系统完成对低噪声放大器MGF4961B附加相位噪声的测量。实验结果表明:在10GHz频率处,测量系统具有-157dBc/Hz@20kHz的相位噪声基底;低噪声放大器MG4961B的附加相位噪声为-144.2dBc/Hz@20kHz(输入功率:-10dBm),-138.5dBc/Hz@20kHz(输入功率:0dBm)。  其次,采用肖特基二极管BAT24-02LS设计并制作了K波段单平衡和双平衡混频器,该混频器作为鉴相器,可用于K波段附加相位噪声测试系统中。实测结果表明:固定中频频率为50MHz时,单平衡混频器在19~21 GHz范围内,变频损耗小于10dB,LO-IF和RF-IF隔离度在42dB以上,LO-RF隔离度在20dB以上,输入1dB压缩点为0.6dBm;双平衡混频器在18.8~20.8GHz范围内,变频损耗小于10dB,LO-IF和RF-IF隔离度在46dB以上,LO-RF隔离度在23dB以上,输入1dB压缩点为3.2dBm。
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