工业CT是一种通过采集不同角度的射线在物体中的衰减信息来重构物体内部结构的成像技术。X射线源是工业CT系统中的重要组成部分,对CT系统的性能有重大的影响。本文围绕X射线源做了一系列的模拟工作,模拟结果为X射线源在工业CT系统及其它领域的应用提供了参考和帮助。本文的内容主要包括以下几个部分：(1)利用蒙特卡罗方法对最高能量为225keV的X射线源的射线能谱和强度分布进行模拟,模拟结果可以为CT系统图像重建时的散射校正和射束硬化校正提供数据依据,并有助于确定探测器单元的最小灵敏度以及为系统的屏蔽防护设计提供参考。(2)利用蒙特卡罗方法对几种不同能量的低能电子轫致辐射的光子产额与角分布进行了模拟和分析,并分析总结了钨的各个特征峰的光子产额和比重随出射角度和入射电子能量的变化规律,模拟结果为低能X射线的应用提供了帮助和参考。(3)介绍了衍射增强成像的基本原理,利用蒙特卡罗方法对几种不同能量的X射线经过晶体产生的布拉格衍射强度进行了模拟计算,模拟结果可以为我们计算白光射线单色化过程中的强度衰减程度提供数据依据,进而为估算衍射增强成像系统的扫描时间及考察射线的利用率提供参考和帮助。