本文研究自相关过程的统计控制问题，内容涉及几种典型的控制图方法。首先概述了统计过程控制(Statistical Process Control，SPC)和质量控制图的基本理论和原理、自相关过程的基本概念及其对常规控制图的影响，然后在第2章介绍了线性平稳时间序列模型。　　 第3章给出了本文进行的仿真实验框架和流程，列举了评价控制图性能的维度和常用指标，给出了改进平均链长(Average Run Length，ARL)的定义和相应的蒙特卡洛计算方法，并提出了两个新指标——长程平均链长(Average Run Length in Long Journey，ARLLJ)和及时报警率，以更全面地刻划控制图的性能。　　 第4、5章研究了自相关控制图中的两类重要方法——调限控制图和残差控制图，分析了其中有代表性的调整均值控制图、EWMAST控制图、残差休哈特控制图和残差EWMA控制图。对自相关过程AR(1)在不同参数水平下的受控和失控模式(分阶跃式突变和渐进式漂移两种)分别进行了模拟，构造了相应的控制图，然后对这些控制图的性能进行了统计分析和比较。为了更全面地刻划控制图的性能，研究中将平均链长和长程平均链长结合起来进行控制限参数的寻优，得出了比较理想的结果。针对残差控制图作用于失控过程的情况，还用ARL1(失控时的平均链长)和及时报警率相结合进行了研究。　　 最后对本文所做的工作进行了总结，对自相关过程的统计控制研究的未来作了思考和展望，并提出了进一步研究的方向。