测试是当前工业界应用最为广泛的软硬件确认技术，近年来正在向系统化、规范化、自动化的方向发展。基于模型的测试成为研究关注的焦点之一。　　 作为引导测试用例选择的标准，测试目的在测试用例生成过程中起到重要的作用。然而，目前的测试目的描述方法通常只关注系统的时序特性，而忽视了事件参数之间的数据相关性关系。并且构造测试目的的过程通常比较繁琐，所得测试用例描述也比较复杂。　　 本文提出了带约束事件的时序逻辑TLCE，能够自然简洁的描述系统运行中输入/输出事件之间的时序关系以及事件参数上的数据相关性约束。在基于模型的并发系统测试框架下，采用以TLCE为测试目的描述的切片算法，实现了测试用例生成工具，可以自动生成有效的测试用例集。　　 主要工作如下：　　 定义了带约束事件的时序逻辑TLCE的语法、语义，并对比讨论了其表达能力。　　 阐述了一个基于模型的并发系统测试框架，采用TLCE描述测试目的，重新设计了测试用例生成算法和定制规则，实现了测试用例生成工具。　　 进行了缓存一致性协议和会议协议的实例研究，所生成的测试用例集显著优于随机测试用例集，说明TLCE作为测试目的描述的有效性，以及该基于模型的测试框架的优势。