现代集成电路(Integrated Circuits，IC)设计中，芯片的规模和复杂程度正呈指数增加，为了保证所设计芯片功能的正确性，需要比以往更多的时间和人力，困难度大幅增加。而且目前功能验证能力已经远远落后于设计能力，功能验证正成为大规模芯片设计的瓶颈。近年来，验证方法的改进主要体现在产生了一些新的特别的验证方法，比如基于断言的验证、功能覆盖率、可约束的随机激励等等；而现在验证方法改进的趋势渐渐转移到如何形成更加系统化和结构化的验证过程。覆盖率导向的验证方法是一种新型的验证方法学，它可以极大的提高验证的效率，符合验证方法学的发展规律，并且已经在工业界有许多实际的应用，是实践证明的先进的方法。现在各个EDA厂商也非常重视对覆盖率导向的验证方法的支持，所以这种方法必然会在一段时间后成为IC工业设计当中主流的验证方法之一。本文对覆盖率导向的验证方法进行了细致的研究，对覆盖率导向的验证方法的整个验证环境及其各个要素的特点进行了总结，并着重于覆盖率导向的验证环境的建立方法的研究。论文从testbench的结构、功能覆盖率模型的建立、验证环境中激励的产生和响应的检查等几个方面，论述了覆盖率导向的验证方法与其他验证方法的区别，并介绍在建立覆盖率导向的验证环境的过程中的一些细节。论文中还介绍了一些新的验证方法，如断言验证，及它们在覆盖率导向验证中的应用。作者针对64位CPU设计，应用硬件验证语言建立了覆盖率导向的验证环境，把理论应用于实践，最后通过实验，对覆盖率导向的验证方法和其他验证方法进行了比较。