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本文实现了基片集成波导谐振腔的设计、微带馈电结构的设计和利用基片集成波导谐振腔结构测量介质样品的高介电常数。具体工作如下：⑴基片集成波导谐振腔的本征结构的研究。利用HFSS电磁仿真软件对基片集成波导谐振腔的本征结构进行仿真，并记录和观察其谐振频率和品质因数。⑵在HFSS电磁仿真软件中进行参数优化，实现了50Ω微带线对基片集成波导谐振腔的单口耦合馈电，馈电结构有四种，分别是一级微带馈电、二级微带馈电、三级阶梯型微带馈电和渐变式微带馈电，根据反射系数的值和加工的便易度选择了三级阶梯型微带馈电结构为介质的测量做准备。⑶利用微扰理论和基片集成波导的等效原理，推导加入微扰后的基片集成波导谐振腔的谐振频率和品质因数与微扰材料的介电常数之间的关系。⑷利用仿真软件在单口馈电的基片集成波导谐振腔中插入不同介电常数的微扰材料，计算微扰后的谐振腔的谐振频率和品质因数，反推介质样品的介电常数。综上所述，本文完成了基片集成波导谐振腔的单口微带馈电结构，推导了基片集成波导谐振腔的微扰理论，并在此种腔体构中插入不同介电常数的微扰材料，计算相应的谐振频率和品质因数，根据推导出的关系式反推微扰材料的介电常数。