本文以Y35系列圆形电连接器、J3矩形电连接器为研究对象，对电连接器的失效模式、失效机理和可靠性设计进行了较系统、深入的研究。 首先介绍了国内外可靠性研究的发展历史和现状；对电连接器试验方法和发展趋势，失效物理分析方法，以及电连接器可靠性研究的现状和存在问题进行了回顾和评述。 其次通过失效分析，指出了接触失效是电连接器的主要失效模式，对电接触失效原因进行了分析，并在此基础上进一步分析了电接触失效机理，得出电连接器主要失效机理是微动磨损的结论，并结合微动理论进行了深入分析，为下一步的电连接器可靠性设计方法研究奠定了基础。 第三，针对微动引起的接触压力减小是影响电连接器工作寿命的主要原因这一结论，应用了增加接触体最小分离力裕度的可靠性设计方法，完善了片簧式接触体的力学模型，推导出了片簧式插孔最小正压力及最大正压力的计算公式并转化为插孔最小分离力与最大分离力的计算，通过Y35-2255电连接器实例计算说明了如何提高插孔最小分离力设计裕度的原则并通过试验对其进行了验证。 第四，通过对冗余设计理论的研究，引出了增加插针和插孔之间的电接触通路的可靠性设计方法，进而引出了典型电接触冗余设计接触体——双曲线插孔。对双曲线插孔结构设计进行图解说明，完善了双曲线插孔力学模型，对双曲线插孔的分离力及强度进行了计算与校核，并进行了实测验证，进一步发展了电接触冗余设计方法。 第五，针对温度应力是电连接器接触失效的主要因素之一的结论，对电连接器的热设计进行了研究。完善了电连接器温升估算数学模型并进行实例计算与试验验证，通过载流曲线对电连接器载流能力进行了分析，对电连接器额定电流降额使用进行了论述，拓展了电连接器热设计方法。 第六，对全文进行了总结，对下一步工作方向进行了说明。