如今,科技日新月益地发展给我们的生活带来更多便利的同时,也给我们的生存环境中带来了的越来越严重的电磁污染。电子产品的电磁兼容能力是保证电子产品之间能够互不干扰地共存的关键,所以关于该领域的检测也越来越受到国际上的重视。现行的射频电磁场辐射抗扰度测试方法是射频功率放大器对测试频率范围内的射频信号逐个频点依次进行放大,通过天线发射干扰信号对被测样品进行检测,该测试方法被包括国际电工委员会在内的各国际机构所认可并广泛的被运用。但是该测试方法冗长的测试时间使得原本就相对供不应求的测试场地资源显得更加捉襟见肘,因此研究一种速度较快并且准确的新测试方法是目前各大国际标准认证体系及相关测试机构单位正在着力研究的课题。本文的研究课题拟在目前现有技术及设备的条件下,以提高测试速度为目的,保证测试准确度为前提,建立一个新的、更高效率的射频电磁场辐射抗扰度测试方法——双频段射频辐射抗扰度测试法,通过对比两种测试方法的结果,验证新的测试方法是否可靠、正确,为有关产品的专业技术委员会或用户和制造商提供一个基本参考。本文的研究成果基本实现了预先的目的,基本达到了笔者的期望值,该课题的完成为加快射频辐射抗扰度测试方法的速度提供了一个基础的概念方法和实际的测试系统的参考。由于该方法并没有跳出现行测试方法的理论与技术框架,新方法的实施并不会引发测试设备系统的大规模升级或者是更新,因此在推广上并不会受到太多的经济方面的压力,这也是本课题研究成果的优点之一。