EAST上等离子体绝对辐射功率和辐射的空间分布的测量，采用了金属膜电阻辐射量热探测器和AXUV半导体探测器组成两种类型的探测系统，是聚变实验装置的基本诊断之一。其中金属膜电阻探测器属于热探测器，采用Pt膜，对红外到软X射线范围内的光子都有很好的线性响应，探测器的输出响应不依赖于光子的能量，适合用作绝对辐射功率的测量，而且探测器对于低能中性粒子能量损失也有响应。除此之外，由于其对微波也有一定的响应，在EAST射频波加热的放电中，微波通过加热测量电阻使其产生响应，因此屏蔽微波干扰对于系统测量准确性尤为重要。适用于真空紫外绝对测量的硅半导体AXUV(absoluteextreme ultraviolet)光电二极管阵列，它的优点是时间响应快(μs)、结构紧凑、成本低。缺点是探测器的响应对光子的能量有一定的依赖性，尤其是在光子能量小于30eV的低能范围，探测器响应波动较大。AXUV探测器快的时间响应使它适于测量瞬态辐射行为，并能分辨出金属膜电阻探测器难分辨的快辐射过程，但此探测器对于辐照的耐受度较低，辐射损伤易造成响应的下降。　　EAST实验期间，金属膜辐射量测量信号受到2.45GHz和4.6GHz低杂波信号的影响，原因可能是未被等离子体空间吸收的散射波从屏蔽系统中的狭缝进入探测器进而影响探测器工作电桥的平衡。进行实验测试，验证了散射微波通过狭缝耦合进入屏蔽系统，加热测量金属膜电阻，干扰了正常信号。本论文的重点是对金属膜电阻辐射量热诊断系统孔隙的网格微波屏蔽进行研究，提出了有效的屏蔽设计参数。基于空间电磁仿真软件HFSS建立了孔缝的网格屏蔽模拟模型，对微波在不同孔隙中的耦合传输和不同参数金属网格的屏蔽性能进行了仿真研究，结果证实直径约为波长1/30的圆孔可以将耦合进入屏蔽盒体内部的电场控制在4V/m以下。由此，提出了在不可封堵的缝隙前安装屏蔽网格的屏蔽措施。综合考虑低杂波加热和即将投入使用的140GHz电子回旋波加热，实际安装采用g～4.2mm，d～0.635mm紫铜孔，通光率为60％。　　针对AXUV探测器受等离子体辐射和高能射线照射响应下降或者表面受损的情况，优化设计了用于AXUV探测器相对标定的实验方案，对具有代表性的AXUV探测器进行了相对标定。并根据探测器测量弦的积分累计量对探测器的辐射剂量进行了估算，结果显示AXUV探测器（单通道）在经历25000炮放电之后其响应性能相对于未经过照射的探测器约下降15％左右，通道之间的不一致性达到了10％-15％，估算单道探测器约接收17-35J累积热辐射能量。表面辐射效应的SEM扫描结果表明现有加热条件下射线和高能粒子对AXUV探测器表面氧化硅保护层的影响主要是局部的表面层脱落，导致硅耗尽层暴露，使辐射热的吸收不均匀，各能段的响应值不一致，低能段的响应升高，高能段响应变化不大。