目的：通过X线头颅定位侧位片测量，比较前牙反合患者与单侧唇腭裂患者在颅颌面形态结构特征，为临床上确定诊断、治疗方案和预后提供参考依据。方法：按照纳入标准随机抽取2011年4月～2012年1月于上海交通大学第九人民医院口腔正畸科就诊的前牙反合（1组）与唇腭裂患者（2组）79例，患者平均年龄11～15岁。1组41例，前牙反合拟做固定正畸者；2组，38例，单侧完全或不完全唇裂合并有单侧完全或不完全性腭裂，于2～3岁之前已行唇腭裂修复术，现需做固定正畸者。对两组病例正畸治疗前的头颅定位侧位片进行测量，分析比较两组颅颌面生长发育的特点和差异，并做统计学分析。结果：前牙反合组SNA值、Co-A值、SNB值较唇腭裂组大，且下颌角Ar-Go-Me值、SN-MP值、PP-MP值、N-S-Gn值、SN-MP值均较唇腭裂组小，差异有统计学意义（P<0.01）。前牙反合组N-S-Ba值、ANB值、A-N-Pg值、UL-Ep值较唇腭裂组小，LL-Ep值较唇腭裂组大，差异无统计学意义（P>0.05）。结论：两组患者颅颌面结构存在差异。唇腭裂组患者的上、下颌骨发育较前牙反合患者小，但下颌角较大，下颌平面向下向后旋转，提示两组患者在颌骨生长发育方面存在差异，这对于临床上进行诊断和治疗设计有重要的参考意义。