对于某些用途的电真空器件,不要求它具有较长的使用寿命,但却要求经过长期贮存后仍能正常工作。如果这些器件的贮存寿命不能达到预定的要求,将会对整个系统的可靠性产生影响。本课题的目的就是建立电真空器件非工作状态贮存寿命的评价模型。从而能够根据这个评价模型来确定电真空器件的有效贮存时间。本论文借鉴了电真空器件使用寿命的研究方法和结论,结合其在非工作状态下的特殊性,得到其贮存寿命评价模型。本文首先研究电子器件失效的数学模型。在详细研究器件的三个失效期的基础上,提出用电子器件的偶然失效期作为电子器件的使用或贮存寿命的观点。在详细研究电真空器件失效机理的基础上,文中提出了影响长期贮存器件寿命的最重要因素是管内气压上升的结论。然后根据管内气压的变化情况,文中得出了根据管内气压的变化评价非工作状态电真空器件贮存寿命的模型。管内气压测量是通过测量它的各个电极在一定电压下的离子流,为了测量较小的离子流,文中设计了离子流放大电路,并使用该电路对显像管的离子流进行测量。对于测量管内气压时需要知道的电离灵敏度,常用的方法是对器件的电极电参数进行工程计算,文中提出了通过计算机模拟方法,通过模拟电子和离子在管内的运动得出器件的电离灵敏度。文中还提供了对一个简单电真空器件模型的模拟计算。文中介绍了速调管的工作原理、发展的趋势和所采取的关键技术。介绍了速调管寿命终结判断法及失效成因,以及工作状态下速调管的失效预示模式。针对非工作状态长期贮存速调管,文中提出了它的贮存寿命评价模型。