自从集成电路诞生以来,对于集成电路设计的验证一直是集成电路设计的重要环节。到目前为止集成电路设计过程中对于验证所投入的时间及人力已远超过设计的投入,并且随着设计复杂度的提高,验证投入将进一步增加。本文以X微处理器访存部件为验证对象,从功能点提取、测试环境搭建和测试向量生成三个方面对X微处理器访存部件的验证工作进行详细分析。首先,本文提取了访存部件功能点。根据访存部件的功能及相关设计文档提取X微处理器访存部件主要功能点。对访存部件寻址模式、字节序、原子性、访存属性等功能点进行了详细说明。其次,本文搭建了基于UVM的验证平台。说明了UVM验证方法学在激励产生、结果检查、输出观测与覆盖率统计等验证面临的主要问题上采用的解决策略。并针对访存部件具体问题,搭建了对访存部件进行验证的验证平台。最后,本文研究了基于遗传算法的测试激励生成技术。相对于约束随机激励生成方法,验证人员不需要精心编写大量的约束,减少了验证人员花费的精力和时间。