电子系统的内部噪声是制约其性能、质量和可靠性的关键因素之一。电子器件的电噪声影响器件质量和灵敏度，同时它又是反应电子器件可靠性的重要参量。电噪声作为一种有效和灵敏的电子器件可靠性表征参量近年来在国际上已得到相当广泛的研究和应用。传统上，人们都是用功率谱密度方法来分析和研究电子器件的低频噪声。虽然噪声信号的相关函数和功率谱密度可提供有用的信息；但是，功率谱的分析方法只适于分析平稳的和线性高斯的过程，而不适于分析非平稳、非高斯和非线性过程。实际中工作的某些领域中，遇到的检测电噪声绝大多数具有很强非高斯性和非线性。这时噪声信号的功率谱并不能反映噪声信号所携带的大量的信息。为了应针对这种情况，本文提出研究了利用高阶统计量方法来研究和分析噪声信号的方法和软件。本论文主要讨论的是使用高阶统计量方法进行电噪声分析和使用电子器件噪声信号进行可靠性分析。从理论提出了相应统计检验量，并在理论上演证了算法的可行性及正确性。在算法研究的基础上，在MATLAB平台上编写了高阶统计积分三，四阶累计量及其谱以及信号非高斯统计检验量，爆裂噪声统计检验量的计算软件。采用模拟信号验证了算法和程序的正确性和有效性。本文还初步探索了高阶统计量的应用，对不同类型的电子器件噪声进行了高阶统计量领域分析。使用高阶统计量方法恢复了信号功率谱，抑制背景高斯白噪声，以及用相应的高阶统计检验量作为电子器件低频噪声可靠性分析的辅助表征参量，用以检验器件可靠性。高阶统计量应用于光电耦合器件可靠性筛选，MOSFET抗辐照性能筛选和集成电路中的电迁移可靠性问题。应用结果证明了高阶统计量方能够用于电噪声分析，表明该软件系统具有实用功效，为后续的噪声的高阶统计量分析打下了基础。